卓茂科技 X5600 为小型精密微焦斑 X 射线离线检测设备，搭载自研智能检测软件与全新图像算法，成像画质清晰，操作流程简易。

整机占地面积小巧，适配研发实验室、品检室、办公检测等多元场景，适用于各类微小精密器件无损检测作业。

核心技术优势

设备支持倾斜透视检测，面对常规正面检测难以辨识的结构缺陷，可多角度观测，辅助缺陷研判。搭配 360° 旋转机械手，全域无死角采集影像，全面排查产品隐患。

设备可按需选配锥束 CT 功能，满足小型电子元件深度检测与三维分析需求，灵活适配不同检测标准。

核心硬件配置

设备采用反射密封型微焦点射线源，管电压 0-90KV、管电流 0-200μA，最大输出功率 8W，微焦点尺寸 15μm。

搭载非晶硅平板探测器，视场范围 130mm×130mm，分辨率 5.5Lp/mm，保障影像采集稳定细腻。

整机规格参数

设备输入电源为 220V 10A 50-60HZ，兼容 Win10、Win11 工控系统。可承载最大样品尺寸 280mm×320mm，整体外形尺寸 850×1000×1700mm，设备净重 750KG，机身结构稳固，部署灵活。

X5600 集轻量化机身、多维检测能力与稳定硬件性能于一体，兼顾实用性与适配性。凭借精细化成像表现与丰富检测功能，可为精密电子行业品质管控、研发分析，提供稳定高效的 X 射线检测解决方案。